CIS wafer Inspection Machine

Image sensor wafer



 Wafer 또는 Recon Wafer 상태의 센서의 표면을 검사하는 장비입니다. 

제진 설계, 고분해능 광학기술, 고속 영상처리기술, 최적화된 조명 기술, 고정밀 제어 기술로 다양한 결함을 1um의 검출력으로 검사를 진행합니다. ​



CIS wafer Inspection Machine - Features



 

 

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Specification




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